影响液闪的主要问题是淬灭。

当然，淬灭有很多种，比如化学淬灭，包括杂质淬灭，浓度淬灭，分子内淬灭等。

比如自吸收，也就是相淬灭，主要发生在非均相测量中。

比如颜色淬灭，闪烁液中有颜色物质。

淬灭将使得计数率下降，降低测量效率，而且使得能谱偏移。

除了淬灭，还有另一因素影响液闪，那就是化学发光和磷光。

不过对于这种发光，最有效的手段是采用符合电路，可以消除这些单光子现象。

因此魏国这篇论文的主要目标，就是对液闪进行最有效的淬灭校正。

也就是说，采用适当的方法求得每一个样品的测量效率，从而求出样品的放射性活度。

在已有的文献里，淬灭校正的方法有不少，比如内标准源法，样品道比法，外标准道比法，h数法，等等。

这些淬灭校正方法都有各自的优缺点，在实践中都是根据不同的样品，选择相对较好的校正方法。

但是魏国给出了一种全新的淬灭校正法，非常简单易行，而且结果可靠。

他将这种方法暂时定名为“魏氏校正法”。

这个方法的提出，将在很大程度上把现有的液体闪烁测量技术提升一大步！

因为液体闪烁测量技术应用的领域非常广泛，尤其在示踪领域，在医学生物学方面，已经成为最常用的技术之一，在核酸和蛋白质研究中也越来越重要。

目前全蓝星有数十万台自动液闪谱仪在工作，每年耗费闪烁液就数千万升，处理几十上百亿个样品。

可以说，“魏氏校正法”的提出，会极大提高这些设备的效能，对于各个领域研究的推动，都将是基础性的，也是革命性的！